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美, 유학생·관광객에 지문·안면 확인키로
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美, 유학생·관광객에 지문·안면 확인키로

입력
2003.08.25 00:00
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내년부터 학생비자나 관광비자로 미국에 입국하는 외국 방문객들은 검색기기(스캔)를 통해 지문과 안면을 확인하는 입국 심사과정을 적용받는다고 뉴욕타임스가 24일 보도했다.이 신문은 미국 당국이 외국인 방문객의 입국 상황을 파악하기 위해 매년 약 1,000만명의 외국인들을 상대로 이러한 'VISIT' 시스템을 적용한다고 밝혔다.

이를 위해 미 국무부와 이민당국은 내국인에 대해 내년 10월26일까지 컴퓨터 칩이 내장된 여권을 실험하고 이때부터 외국인 방문객들에게 같은 기술이 적용된 비자와 서류를 발행할 예정이다.

/워싱턴=연합

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